JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统

标准编号：JJG 1015-2006

中文名称：通用数字集成电路测试系统

英文名称：General Digital Integrated Circuit Testing System

发布部门：国家质量监督检验检疫总局

发布日期：2006-12-08

实施日期：2007-03-08

标准状态：现行

标准页数：17页

内容简介：本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。