SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
标准编号：SJ/T 11494-2015
中文名称：硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
英文名称：Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
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