SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
标准编号：SJ 21347-2018
中文名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
文档首页截图：
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标准编号：SJ 21347-2018
中文名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
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