DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
标准编号:DB32/T 4378-2022
中文名称:衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
发布部门:江苏省市场监督管理局
发布日期:2022-10-23
实施日期:2022-11-23
标准状态:即将实施
标准页数:8页
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标准编号:DB32/T 4378-2022
中文名称:衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
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