T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

标准编号：T/CNS 81-2022

中文名称：电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

英文名称：Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device

发布部门：中国核学会

发布日期：2022-12-16

实施日期：2023-04-01

标准状态：现行

标准页数：19页

内容简介：本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。