JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范

标准编号:JJF 1236-2010

中文名称:半导体管特性图示仪校准规范

英文名称:Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

发布部门:国家质量监督检验检疫总局

发布日期:2010-01-05

实施日期:2010-04-05

标准状态:现行

标准页数:25页

内容简介:本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。

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