DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

标准编号：DB51/T 3207-2024

中文名称：集成电路测试用微波探针应用规范

发布部门：四川省市场监督管理局

发布日期：2024-12-03

实施日期：2024-12-29

标准状态：即将实施

标准页数：10页

内容简介：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。