JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范

标准编号：JJF 1682-2017

中文名称：光栅式测微仪校准规范

英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers

发布部门：国家质量监督检验检疫总局

发布日期：2017-11-20

实施日期：2018-05-20

标准状态：现行

替代标准：JJG 989-2004

标准页数：24页

内容简介：本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。