GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

标准编号：GB/T 14031-1992

中文名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

英文名称：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

发布部门：国家技术监督局

发布日期：1992-12-17

实施日期：1993-08-01

标准状态：现行

标准页数：17页

内容简介：本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。