T/BSPT 6-2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

标准编号：T/BSPT 6-2024

中文名称：颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy

发布部门：北京粉体技术协会

发布日期：2024-11-18

实施日期：2024-11-25

标准状态：现行

标准页数：12页

内容简介：本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。