T/CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法

标准编号：T/CIE 155-2023

中文名称：非易失性相变存储器电性能测试方法

英文名称：Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory

发布部门：中国电子学会

发布日期：2023-03-20

实施日期：2023-03-20

标准状态：现行

标准页数：23页

内容简介：本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。