YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
标准编号：YS/T 679-2018
中文名称：非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
英文名称：Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors. Surface photovoltage method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-10-22
实施日期：2019-04-01
文档首页截图：
温馨提示：
如果点击下载后没有反应或速度过慢等问题，请尝试更换下载地址或稍后再试。