SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
标准编号：SJ/T 11471-2014
中文名称：发光二极管外延片测试方法
英文名称：Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2014-10-14
实施日期：2015-04-01
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标准编号：SJ/T 11471-2014
中文名称：发光二极管外延片测试方法
英文名称：Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes
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实施日期：2015-04-01
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