GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

标准编号：GB/T 5594.1-1985

中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

发布部门：国家标准局

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

标准状态：现行

标准页数：3页

内容简介：本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。