T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

标准编号：T/CNS 82-2022

中文名称：宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

英文名称：Test method for total ionizing dose effect of static random-access memory in space application

发布部门：中国核学会

发布日期：2022-12-16

实施日期：2023-04-01

标准状态：现行

标准页数：15页

内容简介：本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。