T/CIE 070-2020 工业级高可靠集成电路评价 第4部分： 非易失性存储器

标准编号：T/CIE 070-2020

中文名称：工业级高可靠集成电路评价 第4部分： 非易失性存储器

英文名称：Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 4:Nonvolatile memory

发布部门：中国电子学会

发布日期：2020-06-08

实施日期：2020-08-15

标准状态：现行

标准页数：30页

内容简介：本部分规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则，暂不涉及ROM。本部分适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性存储器芯片的鉴定验收和评价检测活动。