GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

标准编号：GB/T 17473.1-2008

中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of solids content

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

发布日期：2008-03-31

实施日期：2008-09-01

标准状态：现行

替代标准：GB/T 17473.1-1998

标准页数：4页

内容简介：本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。