YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

标准编号：YD/T 3037.2-2023

中文名称：通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

发布部门：工业和信息化部

发布日期：2023-12-20

实施日期：2024-04-01

标准状态：现行

替代标准：YD/T 3037.2-2016

标准页数：98页

内容简介：本文件规定了通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。