T/CPIA 0144-2025 多晶硅表面微尘的测定 浊度计法

标准编号：T/CPIA 0144-2025

中文名称：多晶硅表面微尘的测定 浊度计法

发布部门：中国光伏行业协会

发布日期：2025-11-15

实施日期：2025-11-30

标准状态：即将实施

标准页数：9页

内容简介：本文件规定了多晶硅表面微尘的方法原理、试剂和材料、仪器设备等测定。本文件适用于多晶硅破碎后表面微尘浊度的测定,检测下限为0.1 NTU。