GB/Z 107-2025 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估

标准编号：GB/Z 107-2025

中文名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估

英文名称：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

发布日期：2025-12-03

实施日期：1800-01-01

标准状态：现行

标准页数：15页

内容简介：本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。