T/ZJBDT 001.3-2025 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第3部分：相变存储芯片测试

标准编号：T/ZJBDT 001.3-2025

中文名称：新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第3部分：相变存储芯片测试

发布部门：浙江省半导体行业协会

发布日期：2025-01-10

实施日期：2025-01-10

标准状态：现行

标准页数：9页

内容简介：本文件描述了相变存储芯片存储性及可靠性测试方法的术语、测试要求、测试设备、测试条件、测试程序等。本文件适用于实现相变存储芯片的存储性及可靠性验证。