JJF(皖) 259-2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范

标准编号：JJF(皖) 259-2026

中文名称：半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范

发布部门：安徽省市场监督管理局

发布日期：2026-01-09

实施日期：2026-03-01

标准状态：现行

标准页数：23页

内容简介：本规范适用于温度范围(-10~150)℃、湿度范围(60~100)%RH、压力范围(0~0.5)MPa、延时时间(0~100)h 的半导体器件PCT 老化综合试验系统的校准。